丰富的MCR流变仪附件 - 结构分析同步测量

研究目的

流变测量的结果通常用于表征材料的宏观性能，而通过光学、电学、光谱等方法可以研究材料的微观结构，如果二者能同步测量，就可以同时获得材料的宏观性能与微观结构信息，从而用微观结构信息解释宏观流变现象，亦可从宏观现象印证微观结构。

如何选择结构分析附件

主要根据需要观测样品中的微观结构尺寸范围进行选择（如下图），根据光的波长范围，激光、显微镜用于观察微米级结构，X射线、中子用于观测纳米级结构，另外还需要根据样品的物理特性，如所需温度范围、透明度等。

流变-显微可视模块

光学显微可视模块与流变学方法相结合，通过显微镜（可以是白光、偏光或荧光，白光用于观测结构清晰、透明性好的样品，偏光用于研究结晶样品，荧光用于研究结构不清晰、需要荧光指示剂的样品）观察剪切力和变形力对样品微观结构的影响。

显微可视模块由控温平台、CCD 摄像机、长焦物镜、可更换的成像管模块、光源、CCD等组成，观测范围在1微米以上。

流变-SALS模块

流变-小角激光散射测量模块 (Rheo-SALS)可以用于研究流变测量过程中由剪切引起的微观结构变化或结晶。同时，MCR 流变仪同步测量流变数据。

在SALS 中，样品对聚焦在它上面的入射激光产生散射，散射图可指示出样品的微结构的信息，根据散射角度和光强对散射图样加以合理的计算和分析，可估计粒度分布和取向。

激光波长658 nm

最小散射角~ 1°

最大散射角~ 25°

最小散射矢量~ 0.17 1/μm

最大散射矢量~ 4.17 1/μm

流变 - SAXS/WAXS/SANS/Gi-SAXS/Gi-SANS

当需要进行纳米级结构的分析时，MCR流变仪特有的模块可以根据需要实现小角X射线散射（SAXS）、广角X射线散射（WAXS）、小角中子散射（SANS）、掠射式小角X射线散射（Gi-SAXS）、掠射式小角中子散射（Gi-SANS）等与流变进行同步测量的可能（光源和检测系统由用户提供），流变测量可使用同轴圆筒、锥平板、固体扭摆、拉伸等测量系统，以适应不同样品的需要。

透明同轴圆筒PIV附件

C-LTD 70/PIV 是一款光学透明的同轴圆筒系统，光可从侧面或底部照射到样品上。该系统与流变学技术相结合，是颗粒图像测速 (PIV) 应用的理想之选。这两种方法相结合，可以在流变测试过程中使流场可视化，例如剪切带、流动不稳定性或启始流特性。

流变 - 介电流变模块

介电流变模块与 MCR 流变仪配套使用，可以研究机械变形对样品电导率、电容量和介电常数的影响。此设备可以用于分析流动和变形力对样品介电谱的影响，以及分析机械分析法无法涉及的材料特性。

DRD 模块包括一个 LCR 电桥，LCR连接到Peltier或对流温控平行板绝缘测量系统。两个平板形成一个电容器，DRD 系统的软件确保能够灵活进行旋转和振荡模式下的测试，并通过触发脉冲实现 LCR 测定计和流变仪同步。

流变 - 偏光成像模块

偏光成像主要用于观察结晶行为，如剪切诱导结晶或由剪切导致的结晶重排等。

流变 - 拉曼光谱同步测量

拉曼光谱可用于快速分析材料化学结构和物理结构的改变，如交联反应、结晶过程等，通过此方法可将物理行为特性与化学结构的改变直接联系起来。

左图为流变曲线，右图为拉曼光谱，1、2、3、4图对应流变曲线上的点