钨灯丝扫描电子显微镜

产品介绍
 SEM3200是一款高性能、应用广泛的通用型钨灯丝扫描电子显微镜。
 拥有出色的成像质量、可兼容低真空模式、在不同的视场范围下均可得到高分辨率图像。大景深，成像富有立体感。丰富的扩展性,助您在显微成像的世界中尽情探索。
 产品优势：
 丰富的扩展性：SEBSEEDSEBSD等
 光学导航：可快速定位目标样品和感兴趣区域
 大图拼接：可实现全自动的采图和拼接，展示超大视野画面
 图像混合成像(SE+BSE)：在一个图像中观察到样品的成分和表面信息
 双阳极结构：双阳极结构设计,提升了低电压下的分辨率和成像质量
 低真空模式：在低真空下提供样品表面细节和形貌,软件一键切换真空状态
 产品特点
 低电压

碳材料样品,低电压下,穿透深度较小,可以获取样品表面真实形貌,细节更丰富。

毛发样品,在低电压下,电子束辐照损伤减小,同时消除了荷电效应。

低真空
 过滤纤维管材料,导电性差,在高真空下荷电明显,在低真空下,无需镀膜即可实现对不导电样品的直接观察。

大视场
 生物样品,采用大视场观察,能够轻松获得瓢虫整体形貌及头部结构细节,展现跨尺度分析。

导航&防碰撞
 光学导航
 想看哪里点哪里,导航更轻松
 标配仓内摄像头,可拍摄高清样品台照片,快速定位样品。
 手势快捷导航
 可通过双击移动、鼠标中键拖动、框选放大,进行快捷导航如框选放大:在低倍导航下,获得样品的大视野情况,可快速框选您感兴趣的样品区域,提高工作效率。
 防碰撞技术
 采取多维度的防碰撞方案:
 1.手动输入样品高度,精准控制样品与物镜下端距离,防止发生碰撞;
 2.基于图像识别和动态捕捉技术,运动过程中对仓内的画面进行实时监测;
 3.硬件防碰撞,可在碰撞一瞬间停止电机,减少碰撞损伤。
 丰富扩展性
 扫描电子显微镜不仅局限于表面形貌的观察,更可以进行样品表面的微区成分分析。
 SEM3200接口丰富,除支持常规的二次电子探测器(ETD)、背散射电子探测器(BSED)、X射线能谱仪(EDS)外,也预留了诸多接口,如电子背散射衍射(EBSD)、阴极射线(CL)等探测器都可以在SEM3200上进行集成。
 背散射电子探测器
 二次电子成像和背散射电子成像对比
 背散射电子成像模式下,荷电效应明显减弱,并且可以获得样品表面更多的成分信息。
 图像后处理软件(ImageTech)
 1.离线运行，随时随地处理您的数据
 2.伽马矫正
 3.自动亮度对比度
 4.自动 AI 降噪
 5.直方图分析
 6.分辨率计算
 7.图像测量和标记.
 8.兼容多种图像格式，如  TIFF/PNG/JPG/BMP